31 октября 2017 г в 15-00 в конференц-зале Института состоится совместный научный семинар ИЯФ СО РАН – ИНХ СО РАН.

Программа семинара:...

К.В. Золотарев "Новый источник синхротронного излучения для Новосибирского научного центра (концепция, выбор параметров и стратегия продвижения)"

С. А. Громилов "Станция «Монокристальный дифрактометр: задачи, характеристики».

 С. Б. Эренбург "Использование СИ для исследования микроструктуры и электронного строения объектов неорганической химии. Метод EXAFS".

И.П. Асанов "Рентгеновские   и  рентгеноэлектронные исследования наноматериалов с применением синхротронного излучения".

Т.И. Асанова "Станция XAFS-спектроскопии с высоким энергетическим, пространственным и временным разрешением".

Е.В. Коротаев “Рентгеновская спектроскопия для исследования магнетизма".

В.А. Трунова "Новая станция на источнике СИ количественных наноаналитических исследований в области мягкого рентгена - от   бора, включающая комплементарные рентгеновские методики (SRXRF, SR-TXRF, µ-SRXRF, NEXAFS, EXAFS)".

ПРИГЛАШАЕМ ПРИНЯТЬ УЧАСТИЕ В РАБОТЕ СЕМИНАРА